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台积电2纳米制程平台技术介绍

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论坛法老

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发表于 2025-2-21 08:03:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
引言- M0 \* d  q! |$ y
半导体行业随着台积电2纳米(N2) CMOS平台技术的开发取得重大进展。这项技术专门针对人工智能、移动设备和高性能计算(HPC)应用中的节能计算需求进行优化。特别是在2023年第一季度生成式人工智能取得突破性进展后,业界对先进节能逻辑技术的需求持续增长[1]。
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0 n9 O/ n3 l- h. z0 n( D图1:展示了从28纳米到N2的每平方毫米性能/功耗比提升,显示了跨技术节点超过140倍的节能计算加速。
- s4 D. B7 B( d6 [3 H! l2 m6 C
' @) W8 s( W! c) n  u8 nN2技术在半导体制造领域代表显著进步,采用了节能型环绕栅纳米片晶体管、优化的中端及后端互连,以及业界最高密度的SRAM宏单元,达到约38Mb/mm2。与前代3纳米制程相比,N2带来显著提升:速度提高15%或功耗降低30%,同时芯片密度提升超过1.15倍。8 i) `9 Q1 a1 Z/ B

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N2 NanoFlex技术架构
/ [$ r5 z. T  n4 P% K9 YN2平台技术引入创新的NanoFlex方案,通过纳米片宽度调制和多单元架构提供灵活的设计选择。该技术的开发重点关注PPACt(功耗、性能、面积、成本和上市时间)各项指标。
$ q7 o: @& C# l, Y$ l- t9 ]

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图2:展示N2 NanoFlex技术通过结合短单元和高单元库实现超过15%性能提升。0 N8 F0 q6 H0 S. R& f# N7 \6 q/ v
& z' f2 [4 W, o$ N

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- k3 S9 E- t' J; F! \) j3 D$ d图3:对比N2 NanoFlex HD单元和N3E FinFlex单元的性能,显示在各种电压范围内实现14-15%的速度提升。- v$ y" E: D6 ?  \/ @3 s
# y& ^! h7 o0 R+ a8 W% G  j
该平台提供跨越200mV的六档阈值电压解决方案,使设计人员能够针对不同功耗和性能需求进行优化。这种灵活性对于满足各类节能计算应用需求具有特殊价值,同时保持最佳逻辑密度。( t5 Q9 H5 L+ M

/ y+ Z2 Z( F% G( }' ?2 @2
6 A! }. M* I9 B7 ~节能型纳米片晶体管与互连技术- B: M6 ?& \. N
N2平台标志着从FinFET到纳米片技术的成功转型。这一发展历程包括多代Si FinFET技术,从16纳米发展到7纳米节点。
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8 b- B1 N  {9 c5 D图4:展示N2晶体管特性,呈现优异的漏致势垒降低(DIBL)和亚阈值摆幅性能。1 h# ]1 D* \$ h4 j# o. j

0 _2 K; Y0 C8 B$ ^2 M2 x' e

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, T, f  R9 k5 Y3 O图5:展示跨越约200mV的六档阈值电压范围,针对低漏电和高性能应用进行优化。3 K6 g8 X: B3 a. M: ~/ e

) }$ C' I. h0 t* T/ q- ]6 r9 _8 M纳米片晶体管在性能指标上展现显著改进。该技术分别在N型和P型场效应晶体管上实现70%和110%的I/CV速度提升。特别值得注意的是在低电压工作条件下(0.5V-0.6V)性能功耗比得到提升。+ H/ y% m1 A( K0 h7 D

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+ n6 f' e3 U* t$ _9 y1 j' k  `$ j4 C
图6:比较驱动电流和迁移率提升,显示N型和P型晶体管在I/CV速度上的显著改进。
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& X) O0 Q. [5 k  z3
5 ], l& S" c$ }与3D Fabric技术集成
9 S) y. U. }  m0 f8 U: U; S% rN2平台的主要创新在于与3D Fabric技术的无缝集成。该平台包括新型铜质重分布层(RDL),具有平坦钝化层和硅通孔(TSV),针对系统集成和扩展进行了优化。& k* T- }" r$ n7 X' W

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2 d# {1 I: z1 W; n) y
图7:展示N2与3D Fabric技术的集成能力,显示新型铜RDL和钝化层结构。! [$ @! i) e( T. w$ _

- f( }, Q  L; N该技术专门设计用于支持先进封装解决方案,包括SoIC(集成芯片系统)3D堆叠和各种CoWoS(晶圆级芯片堆叠)变体。这种集成能力对加速人工智能、移动设备和HPC产品设计的系统集成和扩展具有重要作用。) h) T  q- J; V- i. Y$ q# h6 Y9 H
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4
; a2 C0 q+ N0 P# F: W4 G6 |SRAM与逻辑性能
% \/ ~+ Q0 `' {" i, Q1 q5 GN2平台在SRAM密度扩展方面取得显著成果,达到约38Mb/mm2。这一提升来自位单元阵列效率和外围布局的多项优化。/ I# G# w2 |4 N1 s

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8 [0 u- o- x2 c2 R2 C& T& F图8:展示从7纳米到2纳米的SRAM宏单元密度扩展,N2达到约38Mb/mm2。
' B9 E* C4 z$ I3 d4 N2 U: d% `7 J1 A7 f- g( ]4 q
该平台展现了可靠的稳定性和性能特征。256Mb SRAM显示稳定的高良率,不经修复即可达到超过80%平均良率和90%峰值良率。该技术成功通过了1000小时高温工作寿命(HTOL)认证,具有约110mV裕量。/ P# l  A5 l* [: D

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图9:可靠性测试结果显示N2技术满足晶圆级可靠性要求并通过1000小时HTOL规范。, V# u- b* \# }$ i) C( U6 ~2 s/ R. ]
* ?; u  \1 u0 s) L
N2平台目前处于风险生产阶段,计划于2025年下半年开始量产。增强版本N2P在保持完全GDS兼容性的同时提供5%额外速度提升,计划于2025年完成认证,2026年实现量产。
1 ]! A7 ]4 l! o7 Y0 B/ r) R+ x
9 c7 h, Y5 |0 M* X! ^' Z5 \; Q参考文献
6 I( U+ t+ f# z  t/ \# W[1] G. Yeap et al., "2nm Platform Technology featuring Energy-efficient Nanosheet Transistors and Interconnects co-optimized with 3DIC for AI, HPC and Mobile SoC Applications," in 2024 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), San Francisco, CA, USA, 2024, pp. 1-4.
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