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TSMC的互补型场效应晶体管(CFET)技术

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发表于 2025-1-6 08:03:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
引言$ r4 ~) O" b, u, n
半导体行业在晶体管架构方面经历了显著的演变。从传统平面设计到FinFET,再到更先进的架构,每一次转变都源于对更好性能和持续缩放的追求。本文探讨这一发展历程中的突破——互补型场效应晶体管(CFET)技术
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8 P# O* ^. x9 F' k
图1:展示了从FinFET到NSFET最后到CFET的晶体管架构演变,显示了工艺复杂度随架构进步而增加。$ G' f4 N( M5 \- @' ]! J/ p
' ]5 s0 r& G: y/ b" b
1* N0 ~( K2 x' E0 n
走向CFET的发展历程9 l  s/ B- W2 |6 F/ w
大约十年前,半导体工业从平面晶体管转向FinFET架构。这一转变是由FinFET器件优异的静电完整性和可扩展性推动的,使栅极间距和单元高度的持续缩放成为可能。行业已经成功运用了多代FinFET技术,但在推进半导体缩放极限的过程中,出现了新的架构——纳米片场效应晶体管(NSFET),也称为环栅(GAA)技术
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  d7 m$ R# t; J* w7 ?# T3 s6 l
图2:说明了CFET如何通过nFET和pFET的垂直堆叠实现1.5-2倍密度缩放,比较了传统CMOS架构与CFET在反相器和SRAM配置中的实现。
+ t; h0 N# V* S- a- J; M
2 {9 T, N$ G* n3 i! _2% ^3 c; c  e/ G" D
CFET:新一代架构
9 G, T% C) [5 f1 r% nCFET代表了晶体管设计的重大进步。通过垂直堆叠nFET和pFET器件,CFET在相同栅极间距下提供了比传统CMOS架构高约1.5到2倍的密度。这种密度提升来自创新的垂直排列,但垂直局部互连所需的空间在一定程度上限制了缩放效益。
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7 R+ |: m+ V% A- h7 D2 D- Z: N图3:详细的工艺流程图,显示了顶部nFET和底部pFET器件单片3D堆叠CFET制造的关键步骤。, \7 s3 u" i, t- x! Y/ H! l

! Y3 g& c. X' Q3+ S! s, g& D8 ]
技术实现和制造
7 [; F- O$ k+ ?' ?CFET器件的制造涉及复杂的工艺,始于SiGe/Si超晶格堆栈的制作。CFET设计的独特之处在于包含了高锗含量的SiGe层,作为中间电介质隔离(MDI)形成的占位符。4 T+ D2 m2 \! E% y

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) O+ h. i1 s4 m' P
图4:比较传统NSFET和CFET的SiGe/Si超晶格堆叠方案,显示晶格失配指数作为质量指标。
  S3 Z& P9 h* v3 s9 I" i4 L& ~/ C' I7 z) k, w5 b9 p6 m/ V" P9 ?8 b
制造工艺采用最先进的技术,包括:
# H# ?2 K+ w/ Y' x7 S8 j$ Y用于纳米片堆栈图形化的极紫外光刻' X' ^- J! \- F- c' @* T+ l& {
浅沟槽隔离(STI)形成7 ]! T! Y- W& S$ `. |
栅极间隔物沉积3 j5 i7 R- F! V& R
源极-漏极外延生长% `9 M( u$ g1 w& H- O+ U0 f+ m
" [3 a2 X, i6 j$ {

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# O( x8 B4 g4 n5 E) H+ U5 K
图5:48nm栅极间距单片CFET的TEM演示,显示了具有共享金属栅极结构的nFET在pFET上方的垂直集成。
( I3 l1 Y, \# A/ l1 m5 w
' ?: T. X  x3 C: w! ~. T4
3 D1 G( e- g! B) }器件结构和集成
8 H. j2 M0 N) p: {, H  H1 f" qCFET结构包含多个创新特征以确保最佳性能。关键要素是中间电介质隔离(MDI)和内部间隔物(INSP)的实现,基于锗含量实现SiGe的选择性刻蚀。! w* I# H  N$ c

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0 X. w5 Y+ m" M$ r1 _  K/ H9 Z: G
图6:详细示意图显示了3D堆叠CFET结构,分别用于nFET和pFET电气表征的独立配置。
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4 B8 Q, j4 C3 ?. `% R9 T

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6 t1 @* G0 C1 b4 T1 G图7:完整3D堆叠CFET结构的示意图,显示同一晶圆上的nFET和pFET触点。
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/ a, G( E) a! a) C3 o+ R5; A& Y5 F. Z( b6 i# D
性能和结果9 {! l# O6 Q4 P& T( \' Z$ r9 W
CFET器件的电气特性显示出优异的结果。nFET和pFET都展现出优秀的性能指标:) `' I3 V5 H8 g4 G) z+ X9 O

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8 v( h4 g3 P4 @# e  A8 @图8:显示nFET和pFET器件存活率超过90%的图表,以及用于评估的存活标准。* n6 \8 Z) z3 ?8 X

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, P7 j( P3 Z# v) {. h$ A+ t图9:Id-Vgs特性曲线,展示nFET和pFET器件优异的亚阈值摆幅性能。
. ?' R9 F) u9 A. b8 p
# Q$ e; L# J- |. G6 S1 c0 n器件实现了nFET为75mV/dec和pFET为73mV/dec的亚阈值摆幅,漏极诱发势垒降低(DIBL)值分别为50mV/V和45mV/V。
( H$ P, z. o, Z2 I

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5 m0 W; T6 E, S' ]  v6 \0 j$ V+ v图10:Id-Vds特性曲线,显示两种晶体管类型的高开启状态性能。
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$ G* z% J, B; s7 H67 Q: |/ ?+ E( J
未来展望和挑战
" ~# M, }. A+ K9 L8 j! fCFET技术虽然展现出优异性能,但仍面临一些挑战。堆叠的nFET和pFET之间的垂直局部连接和隔离集成仍然复杂。然而,48nm栅极间距器件的成功展示为未来发展奠定了基础。
' D! f, R  b  A. U7 M1 r2 L1 E- h. x8 g
通过持续的开发和优化,CFET能够实现逻辑技术的进一步缩放,同时保持或改善器件性能。这些器件在48nm栅极间距上的成功展示为半导体技术的创新指明了方向。3 i, L% E$ h4 V5 T2 v  s

! O) e7 v* I& k. H参考文献
) I3 P! d2 M/ {+ b* A[1] S. Liao et al., "Complementary Field-Effect Transistor (CFET) Demonstration at 48nm Gate Pitch for Future Logic Technology Scaling," in 2023 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), San Francisco, CA, USA, 2023, pp. 979-983.
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欢迎转载! O0 `( q$ \2 p* ]+ l7 y

5 }9 I, d& T& c7 u* _2 E% Y转载请注明出处,请勿修改内容和删除作者信息!, S" @/ @& [1 k2 G4 k* U

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7 @9 G4 {6 A; |5 m* m+ \关于我们:
. H, w) n5 A) @8 d5 {- u4 m4 C深圳逍遥科技有限公司(Latitude Design Automation Inc.)是一家专注于半导体芯片设计自动化(EDA)的高科技软件公司。我们自主开发特色工艺芯片设计和仿真软件,提供成熟的设计解决方案如PIC Studio、MEMS Studio和Meta Studio,分别针对光电芯片、微机电系统、超透镜的设计与仿真。我们提供特色工艺的半导体芯片集成电路版图、IP和PDK工程服务,广泛服务于光通讯、光计算、光量子通信和微纳光子器件领域的头部客户。逍遥科技与国内外晶圆代工厂及硅光/MEMS中试线合作,推动特色工艺半导体产业链发展,致力于为客户提供前沿技术与服务。
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( `& ~9 H* S' X/ `& z  D1 U( B2 n0 ghttp://www.latitudeda.com/
& i+ `9 e* t" V. m5 \9 D& w(点击上方名片关注我们,发现更多精彩内容)
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