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先进封装中的翻转芯片技术概述

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发表于 2024-10-25 08:03:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
引言* d& G0 a4 x4 h
翻转芯片技术已成为半导体行业中不可或缺的封装方法,在性能、尺寸减小和功能增加方面具有优势。本文概述翻转芯片技术,包括晶圆凸块制作工艺、组装方法和进展。0 `3 l- K) q. o: v) Z$ U) }

% L2 H% h& Y& Y

5 T/ D  X- G: N  p' o- ^) E5 [翻转芯片技术简介
! A6 a5 |1 y$ _) m) r, J. y翻转芯片技术由IBM在20世纪60年代初引入,涉及将芯片的有源表面直接通过导电凸块连接到基板上。与传统的引线键合相比,这种方法具有以下优势:
" j) M: ]: P0 e/ _$ D3 z
  • 由于互连更短,电气性能更好
  • 更高的I/O密度
  • 更小的封装尺寸
  • 更好的散热性能) k% J4 I, b* |6 N/ ^& Y  z
    . j% ^3 \7 U" h6 {, W
    晶圆凸块制作工艺
    & B$ ~( X5 T3 m, M  e晶圆凸块制作是翻转芯片技术中的关键步骤。两种常见的方法是模板印刷和电镀。% F- q$ K3 o' p4 f
    7 q: l# f& v2 y% @$ K* ^
    模板印刷& Q4 t9 O4 H% t: E
    模板印刷是一种简单且具有成本效益的晶圆凸块制作方法。过程包括:
  • 通过模板将锡膏涂到晶圆焊盘上
  • 回流锡膏形成凸块
    1 [8 j7 P/ ~5 W" w9 ][/ol]2 \1 o8 U7 r6 R; _
    图1说明了准备进行模板印刷的晶圆:1 B' e7 H' J6 ?; A3 f4 ?( b4 r* p6 V

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    + f7 ]( S+ o! Q6 r/ _+ t3 p图1
    , F: F# p+ n' {, r8 U* e8 k- [: t$ }7 g
    该图显示了一个8英寸晶圆,每个芯片有48个焊盘,焊盘间距为0.75毫米。使用的模板具有不同的开口尺寸和形状,以优化凸块形成。6 B/ Q8 _; w$ H+ k
    6 {) z7 x4 }) x, U
    C4(受控塌陷芯片连接)晶圆凸块制作
      b2 n' ^  g) b1 k4 BC4凸块制作通常通过电镀完成,包括以下步骤:
  • 溅射凸块下金属层(UBM)
  • 涂布和图案化光刻胶
  • 电镀铜和焊料
  • 剥离光刻胶并蚀刻UBM
  • 回流焊料形成球形凸块; A* Y: x9 T7 H6 F. I! B- ]8 Y+ P
    [/ol]
    5 P& M  K) A3 p2 ^图2说明了C4晶圆凸块制作过程:2 f4 I" W6 ~# e' N: v( T( m

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    ' O3 @4 w& ^' c+ ?6 l图2; P6 j/ s) i8 S/ w/ }
    $ P1 A2 @' o3 [: P/ x) c
    C2(芯片连接)晶圆凸块制作
    3 C. I/ v, w: o/ b9 `/ IC2凸块制作是C4的一种变体,使用带有焊料帽的铜柱。这种方法允许更细的间距和更好的热电性能。该过程与C4凸块制作类似,主要区别在于在焊料帽之前电镀铜柱。
    , I  s0 Z9 w+ w8 Y
    % j  j& s' Z) i$ |* _图3显示了C2晶圆凸块制作过程:% p4 O9 I% p  W7 M

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    ' d) W! {% z2 D% V" q
    图3
    " F( |/ h% ~; X  I% l4 t9 T; z: s8 F: y2 O$ P
    4 w2 h1 A( a/ \5 P+ b; z/ z
    翻转芯片组装方法" g" y; @( s5 R  u! z
    有几种方法可以将翻转芯片组装到基板上。选择取决于凸块类型、间距和可靠性要求等因素。# m# ?$ p' m. d1 S- l; d& s# y* O
    # r; W0 C6 C/ Q" a/ K0 p
    C4或C2凸块的批量回流(CUF)& u2 a0 |* P" B5 h
    这是最常见的翻转芯片组装方法,包括:
  • 在凸块或基板上涂助焊剂
  • 将芯片放置在基板上
  • 回流组件形成焊点
  • 为提高可靠性而施加毛细管底填充(CUF)
    . L/ B3 m. R3 R[/ol]# [5 O2 M% x5 M1 c* p+ j0 O
    图4说明了这个过程:
    7 ~4 M7 S& h2 @- n

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    " E& A5 x# R" `4 Q/ p, ~图4/ M- x$ n, K9 Q1 q) w, n  j( [

    ' v8 E1 \  K6 ^& [( r低力热压键合(TCB)(CUF)
    1 ?2 q+ F/ N- O0 H6 r对于更高的引脚数和更细的间距,使用低力TCB:
  • 涂助焊剂
  • 将芯片放置在基板上
  • 施加热量和低压力形成焊点
  • 施加毛细管底填充
    6 i8 ]* K1 Y, H; U* s3 `[/ol]
    ' Q: G9 L+ Y8 h: e% @图5显示了这个过程:' @; n7 B: {1 A( q

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      o" B- ^0 S) a; F% J4 g
    图5
    $ D6 C4 F6 d& N3 {" C% M! _/ S( O1 ~9 s
    高力TCB(NCP/NCF)
    ; G* g$ g- k& u* W& h3 t) }# v8 ~. t对于更细的间距和更薄的封装,使用高力TCB和预先涂布的底填充:
  • 在基板或芯片上涂布非导电糊料(NCP)或薄膜(NCF)
  • 将芯片放置在基板上
  • 施加热量和高压力同时形成互连并固化底填充! o; Q# a8 {" B! P( ^6 C
    [/ol]
    - Z; Y3 j9 B8 _3 Y8 U图6和7说明了这些过程:8 z+ F& K; f  Q5 C; e

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    0 c. S) k9 D: m, y0 }, I( b$ U7 Q
    图6
    8 Y7 ^: }; b5 T2 q+ `$ F3 _* ]9 Z! t! H* s+ w

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    & P% E' ^+ F1 r图74 _4 u( @# B7 X- }- b  U3 j: n

    & z) [- f- k3 ?7 P9 J) O

    0 j* ]) D: w! A' U用于可靠性的底填充' D& t* V& B, r; ]1 w7 q
    底填充对翻转芯片组件的可靠性非常重要,特别是在有机基板上。它有助于分散应力并保护焊点免受热疲劳和机械疲劳。
    4 x/ E) |( n* K& i& _$ w
    0 A# {/ z* G3 R: A$ F( |/ i2 E0 w图8显示了底填充分配过程:0 U) V& u4 k4 H: [5 X5 a9 N

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    2 D) |8 X, p" s- O  X/ w. A
    图8$ H+ p  U. [% w; u

    " E/ g5 L5 L" l' l先进的翻转芯片组装:C2凸块的LPC TCB
    ; L0 \! L% u2 [% ~7 w5 T" W翻转芯片组装的最新进展是液相接触(LPC)TCB工艺。这种方法提供更高的产量和更好的焊点高度控制。
    ; U6 L( j( M- r; o7 G. ^5 U& S" s
    LPC TCB的主要特点:
    ! e% C1 q5 H" q4 K" \7 k- @7 {
  • 焊料在接触基板之前熔化
  • 更短的键合周期时间(
  • 精确控制焊点厚度9 V0 ?3 L, n1 f+ e4 ]0 r
    - M$ h2 k6 L# g- e' o/ b! l
    图9说明了LPC TCB过程:
    2 d9 D7 O% M9 R  E3 X* u

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    # y% f( a2 }# z; A
    图9
    . s  v) u7 U3 w) j! I
    6 C- H# M3 p! z5 U2 l. xLPC TCB的优势:) q% B) }" V, j
  • 更高的产量(每小时可达1,200单位)
  • 优秀的焊料润湿性
  • 精确控制支撑高度3 \& Q: ~+ v  c; t+ k$ E
    8 d9 a3 i. l8 R; ?' [( `
    图10显示了使用LPC TCB的芯片上基板(CoS)组件的横截面:
    . W- a& d( q9 L) |/ _4 D9 Q

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    : L0 O8 q9 F. d1 d9 w& }8 }
    图100 v, e5 E: y% I1 u0 R  o

    / S# L$ Z6 U+ W4 X焊点质量和可靠性
    / T" y* X& r, z: O+ ]焊点的质量和可靠性对翻转芯片组件非常重要。影响接头质量的因素包括:0 E: {* J/ ~7 H
  • 金属间化合物(IMC)的形成
  • 焊点支撑高度
  • 热循环性能
    ! \0 R/ `( D* I
    1 M, J3 m  w& z; z
    图11比较了不同工艺形成的焊点的界面微观结构:
    1 X+ Z1 G: @$ P  }, W

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    9 ~$ t8 ~% b6 n0 w! X9 V" K! z图11+ X" a2 e7 `: l# \: H" G5 B4 ?$ M

    : N4 b( @) G7 p. `未来趋势和建议- O) L- s2 \2 p' B  s3 A6 M7 M
    随着半导体行业的不断发展,翻转芯片技术正在演变以应对新的挑战:5 s1 ?: `6 Y9 U! u+ y
  • 增加引脚数(高达10,000个)
  • 减小焊盘间距(低至30μm)
  • 更薄的芯片和基板
    + E, t: ?$ {5 M7 L# Z8 t
    % {+ `( g  O- Q' C
    图12总结了不同翻转芯片组装方法的当前能力:
    5 T- Q$ j6 {& f5 D

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    & q: i. p  q0 C
    图12  _5 b8 Q: j1 A0 p9 ]
    5 N& x8 C: }6 y% p9 N
    对翻转芯片技术的建议:
  • 对于大多数应用,在有机基板上使用C4凸块的批量回流和CUF仍然是最广泛使用的方法。
  • 对于更高的引脚数和更细的间距,考虑使用小力TCB和C2凸块。
  • 对于最高的引脚数和最细的间距,使用大力TCB和带有NCP/NCF的C2凸块。
  • 关注LPC TCB等进展,以潜在地提高产量和焊点质量。) ]0 Z; p$ U: w# F  h
    [/ol]0 v$ @; S2 U* w; N5 B
    结论0 q; f% o4 s' |2 Y
    翻转芯片技术继续成为半导体行业中的重要封装方法。通过了解各种凸块制作工艺、组装方法和最新进展,工程师可以为其特定应用需求选择最合适的技术。随着行业向更高集成度和更小的外形因素发展,翻转芯片技术将在实现电子设备中发挥越来越重要的作用。  [4 o, l9 Q9 V. n
    ' p0 x3 j5 [# C/ p9 Y6 p- w1 Q' Z
    参考文献' ^& Z6 U2 x. H* `& P
    [1] J. H. Lau, "System-in-Package (SiP)," in Semiconductor Advanced Packaging. Singapore: Springer Nature Singapore Pte Ltd., 2021, ch. 2, pp. 27-65.
    4 ]5 R, E. }0 F
    2 ]3 C, O2 d" Q6 r- END -- ]3 E$ G( H: N( m# U$ j) a7 ]

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    ! o  f& G( n" Z5 c$ ]& V  D关于我们:0 @0 t& i8 p# f# c/ z
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