写在前面: 感谢后台各位伙伴们的关注和支持,在大家的期盼下,华秋DFM终于再次迎来了新功能更新! 往期迭代的版本,无一不帮助大家提前规避了很多关于生产和设计的隐患问题,所以此次也秉承着为大家节省更多时间和资源的原则,希望带给大家更好的体验和服务。 2 I r8 m( r2 _+ e$ T; E! j
V3.8新版本解读 ● PCBA组装分析功能中,增加焊盘散热分析功能,此功能可以对存在虚焊风险的焊盘及走线方式,进行识别预警。 ● PCBA组装分析中,增加替代料分析功能。 ● 丰富元件库数量及优化匹配规则,增加元件型号数量约100万个。 ● 提高仿真图的渲染效果,使仿真图更加逼真接近实物。 ) j6 q5 q2 Z5 N- p. }
华秋DFM软件最新下载地址(复制到电脑浏览器打开): https://dfm.elecfans.com/uploads/software/promoter/HQDFM%20V3.7.0_DFMGZH.zip 当然,后续我们也将不断优化更多功能体验和服务质量,希望大家继续提供宝贵的建议哦~ 下面,和大家分享几个关于焊盘散热过快的案例,并结合华秋DFM软件详细讲解是如何检查的。
0 \: ^% Q8 Z. aPart.01焊盘散热过快导致生产缺陷 在pcb设计中,如果器件的某一个或几个管脚需要和大面积铜箔相连,建议焊盘采用如下花式连接,避免大面积铜箔与焊盘实铺相连。 焊盘与大面积铜箔实铺相连,会导致焊盘在焊接过程中散热太快,出现冷焊、立碑、拒焊的情况出现。 0 \/ w3 s' J3 b0 x" t7 o) ~6 a
: w$ c% Z" h, z缺陷一:冷焊 / P0 z7 e1 g$ p7 ?, _
在回流焊时,器件的个别管脚焊盘散热过快,出现锡膏未能完全熔化,呈粉末状。其产生的直接影响就是焊接不牢靠,虚焊假焊,这在smt品质要求中是不允许存在的,会导致产品无法正常工作或影响产品的可靠性。 
, ?0 a2 x- d/ v& G8 F6 Y- s c
# x4 C Q+ g& a3 Y, }缺陷二:立碑
0 D/ n* R) S; D小封装的电阻或电容,如果其中一个焊盘与大面积的铜箔相连,另一个焊盘只与信号线相连,在过炉时,由于一个焊盘散热过快,会因时间差而导致两边的湿润力不平衡,从而致立碑。 ( K: U) k* @! ?
. K+ F8 [# C k. }: a O缺陷三:拒焊
6 i& E# \6 r5 |0 ], S在DIP焊接过程中,除了PCB焊盘、物料管脚氧化,焊接面有异物导致的拒焊以外,焊盘散热过快也是其中一个原因,在过波峰焊时,相同的炉温曲线,由于局部焊盘散热过快,导致温度变低,出现个别管脚焊锡不饱满、甚至不沾锡的情况。 6 a b) @# Z8 Q9 ?5 Q# ^& x! c4 C0 y
; |) g T) y- s/ e+ r! _5 V2 r0 h2 a
除了建议采用以上花式焊盘连接以外,为了让PCB设计的可焊性进一步提高,华秋DFM推出的焊盘散热分析功能,能更加精确地计算出:焊盘连接处的连线宽度与焊盘周长占比,通过占比参数评估设计的合理性。下面结合软件讲解。
' U7 j% {+ V# G& {/ rPart.02用华秋DFM检测可焊性风险
' J8 x$ J/ g4 f焊盘周长连线宽度比(SMD)
0 y6 Q$ ^& u- ^0 z3 k) _$ [5 V连线占SMD焊盘周长宽度比≥100%,散热过快锡膏熔点低会导致虚焊,建议优化走线、铜与焊盘相连的比例。如果是铜箔相连可以采取热焊盘设计。 # j) V4 ~3 l0 i0 D1 q
" \7 O, D' |2 `5 {) E" i0 y- I6 c焊盘周长连线宽度比(DIP) 0 w5 j4 {. Z9 D- F, X1 n# F
连线占DIP焊盘周长宽度比≥100%,散热过快锡膏熔点低会导致虚焊,建议优化走线、铜与焊盘相连的比例。在铜箔上的DIP焊盘可以采取热焊盘设计。 
" k, r# Y/ i! M) B* F; {' k/ v y8 s6 `- H& `
焊盘周长连接线宽度比(chip) 1 g0 o4 f2 ^, I' v1 d
连线占分立元件焊盘周长宽度比≥5.86倍,焊盘导线较大的导热系数快,建议将焊盘连线调整统一宽度。如果一个焊盘是线连接,另一个焊盘铜箔全连接,可以采取用热焊盘方法设计,统一两个焊盘的连接宽度。 ( N/ n, a4 F y1 [4 m- e
& k+ X( O6 ]/ F9 p' ]( J
|