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[硬件设计] 关于采样用开尔文封装

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发表于 2020-7-2 17:27:48 | 显示全部楼层 |阅读模式
关于高精度测量电阻在pcb设计的时候方法如图所示通常我们的采样电阻在设计的时候是直接用1206 2512等封装

+08:00C434联盟网9858..png
但是由于我们在焊接时候由于焊点的出现就会出现焊点电阻出现。
解决办法如下:
+08:00C434联盟网5001..png
将电阻封装一份为三 采样部分 电阻部分 也就是开尔文封装
+08:00C433联盟网2607..png 检测走线的布局也会影响测量精度。为了实现最高精度,应在电阻边缘测量检测电压。图所示建议布局采用通孔,把焊盘外边缘布局到另一层,从而避免切割主电源层。
同时对于多层板时候必须注意采样部分的平面不能分割出现。

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