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单片机C语言实例-137-非门数字芯片测试

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单片机C语言实例-137-非门数字芯片测试

内容:通过电闪烁P1口状态,观测非门工作状态
        主要测试非门功能和检验芯片是否正常工作
------------------------------------------------*/
#include<reg52.h> //包含头文件,一般情况不需要改动,头文件包含特殊功能寄存器的定义
/*------------------------------------------------
uS延时函数,含有输入参数 unsigned char t,无返回值
unsigned char 是定义无符号字符变量,其值的范围是
0~255 这里使用晶振12M,精确延时请使用汇编,大致延时
长度如下 T=tx2+5 uS
------------------------------------------------*/
void DelayUs2x(unsigned char t)
{   
while(--t);
}
/*------------------------------------------------
mS延时函数,含有输入参数 unsigned char t,无返回值
unsigned char 是定义无符号字符变量,其值的范围是
0~255 这里使用晶振12M,精确延时请使用汇编
------------------------------------------------*/
void DelayMs(unsigned char t)
{

while(t--)
{
     //大致延时1mS
     DelayUs2x(245);
         DelayUs2x(245);
}
}

/*------------------------------------------------
                    主函数
------------------------------------------------*/
void main (void)
{
P1=0x00;          //初始化值
while (1)         //主循环
  {
   DelayMs(200);  //主循环中添加其他需要一直工作的程序
   DelayMs(200);  //延时后进行端口取反操作,用led看到的效果是闪烁
   P1=~P1;        
  }
}


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