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华秋DFM新功能丨可焊性检查再次升级,抢先体验!

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发表于 2023-9-28 14:34:52 | 显示全部楼层 |阅读模式
写在前面:
感谢后台各位伙伴们的关注和支持,在大家的期盼下,华秋DFM终于再次迎来了新功能更新!
往期迭代的版本,无一不帮助大家提前规避了很多关于生产和设计的隐患问题,所以此次也秉承着为大家节省更多时间和资源的原则,希望带给大家更好的体验和服务。

7 C* t: O; _' U& ~$ s6 S
V3.8新版本解读
● PCBA组装分析功能中,增加焊盘散热分析功能,此功能可以对存在虚焊风险的焊盘及走线方式,进行识别预警。
● PCBA组装分析中,增加替代料分析功能。
● 丰富元件库数量及优化匹配规则,增加元件型号数量约100万个。
● 提高仿真图的渲染效果,使仿真图更加逼真接近实物。

9 V( V3 Z- H8 L1 i4 O9 Z0 Q
华秋DFM软件最新下载地址(复制到电脑浏览器打开):
https://dfm.elecfans.com/uploads/software/promoter/HQDFM%20V3.7.0_DFMGZH.zip
当然,后续我们也将不断优化更多功能体验和服务质量,希望大家继续提供宝贵的建议哦~
下面,和大家分享几个关于焊盘散热过快的案例,并结合华秋DFM软件详细讲解是如何检查的。
  V0 W8 M% ?. g% C' @/ P
Part.01焊盘散热过快导致生产缺陷

pcb设计中,如果器件的某一个或几个管脚需要和大面积铜箔相连,建议焊盘采用如下花式连接,避免大面积铜箔与焊盘实铺相连。

焊盘与大面积铜箔实铺相连,会导致焊盘在焊接过程中散热太快,出现冷焊、立碑、拒焊的情况出现。


1 G9 t9 }  ~! [7 }, e; C7 U( x
# E8 z, S' W: s* C
缺陷一:冷焊

% [+ z! L) e. u) F" ]$ h* N

在回流焊时,器件的个别管脚焊盘散热过快,出现锡膏未能完全熔化,呈粉末状。其产生的直接影响就是焊接不牢靠,虚焊假焊,这在smt品质要求中是不允许存在的,会导致产品无法正常工作或影响产品的可靠性。

- B# z6 N* B2 M9 H/ l$ u2 X

# F! ^9 B# Y3 B# \/ ~0 D* X+ r7 R
缺陷二:立碑

  n. x5 Z8 X) f- d7 \0 K7 T! w9 `

封装的电阻或电容,如果其中一个焊盘与大面积的铜箔相连,另一个焊盘只与信号线相连,在过炉时,由于一个焊盘散热过快,会因时间差而导致两边的湿润力不平衡,从而致立碑。


4 P" L- Z4 S, g# Z8 \

3 ?1 p+ x# G& |
缺陷三:拒焊
+ e& h! A2 Y5 i- D

在DIP焊接过程中,除了PCB焊盘、物料管脚氧化,焊接面有异物导致的拒焊以外,焊盘散热过快也是其中一个原因,在过波峰焊时,相同的炉温曲线,由于局部焊盘散热过快,导致温度变低,出现个别管脚焊锡不饱满、甚至不沾锡的情况。


* E( x8 i5 I5 D
0 t! j2 \2 h( V$ s% k. [/ n" E
除了建议采用以上花式焊盘连接以外,为了让PCB设计的可焊性进一步提高,华秋DFM推出的焊盘散热分析功能,能更加精确地计算出:焊盘连接处的连线宽度与焊盘周长占比,通过占比参数评估设计的合理性。下面结合软件讲解。

  G6 X& g8 x4 M# {" g; N
Part.02用华秋DFM检测可焊性风险

! ^, s+ S0 q' _+ O4 J" P
焊盘周长连线宽度比(SMD)
0 V4 g% L8 G2 L# S7 j0 T

连线占SMD焊盘周长宽度比≥100%,散热过快锡膏熔点低会导致虚焊,建议优化走线、铜与焊盘相连的比例。如果是铜箔相连可以采取热焊盘设计。

. d# ^! b# U2 r; S

" S; I5 O- G& |* x  _$ s1 g7 Q+ H
焊盘周长连线宽度比(DIP)
  g1 G& g" v* z' p4 J" j9 L: t) C& N

连线占DIP焊盘周长宽度比≥100%,散热过快锡膏熔点低会导致虚焊,建议优化走线、铜与焊盘相连的比例。在铜箔上的DIP焊盘可以采取热焊盘设计。


4 S* t$ G! w+ ]8 |4 o8 N6 ]& v

, Z5 J, M" k: @4 `: T- O
焊盘周长连接线宽度比(chip)

& A0 f- G2 y/ i- M

连线占分立元件焊盘周长宽度比≥5.86倍,焊盘导线较大的导热系数快,建议将焊盘连线调整统一宽度。如果一个焊盘是线连接,另一个焊盘铜箔全连接,可以采取用热焊盘方法设计,统一两个焊盘的连接宽度。

# u" K4 A  I7 {

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