|
利用场管内部的寄生二极管的单向导通特性对场管的好坏进行判断。7 o+ G0 R4 o5 d" a8 F; z& I# [
" k# v6 n: }. J7 T第一步 将三个脚进行短接放电
! Q) {( J5 t0 h$ b) l# E
9 z& e' N4 w. f# @$ Z$ J, ^
eitnp4pdn1c640443639.png
# A1 M/ K+ L2 W3 |3 D0 T6 r- i3 R- S8 F" f; p
这样做的目的对场管内部的寄生电容进行放电,防止有压差,使它内部产生导通,使得测量有误。
; @( b" g" f3 \: D, F4 T1 p/ _" x2 J
第二步 测量内部二极管万用表打到二极管档,然后用两个表笔对这个 MOS 管的漏极和源极进行正反向测量。
$ R+ u& O9 d/ V用万用表测量内部二极管,正向测量时应该有一个零点几伏的压降,反向应该截止,不符合的话,说明管子坏了。% ?3 q( P X; \
对于 N 沟道场管:
7 T. `3 n3 r6 n4 \# d5 a
6 T) A) u; U3 T# @. f$ A4 h
x4w0t2ppwlk640443739.png
: a- l8 Q" G1 \6 C- {4 S7 z/ ~
) [- A9 g5 E. ]! ?) q$ A( u- ]: U对于 P 沟道场管:
; D( t( B$ @9 C( m, q7 H5 |: j9 Y9 m% \1 k% _
ri2ayymhfmz640443839.png
( g9 p- D/ J$ X! Y4 N& h
" `: e# P) \! y# P& }一个好的 MOSFET 正向测量时内部二极管应该有 0.4V 至 0.9V 的压降(取决于MOSFET类型),如果压降为零,则 MOSFET 有缺陷,当读数为“开路”或无读数时,MOSFET也有缺陷。
# C" e" _- J3 g, E& K% I" n" i* e) `$ L当反向测量场管内部二极管时,压降应为“开路”或无读数。如果压降为零,则MOSFET有缺陷。& C) Y: R6 a& p9 _" A2 ~7 n9 S
下图显示正向 N 沟道管源漏极之间的二极管有 0.52V 的压降:
! N. D% r) c6 I0 k1 V3 n2 [% Y) B0 S- e' W9 R1 p! P# A
p3px5upjman640443940.png
" o, B# l0 D& ?, P7 M' f) i; i/ @* z
5 a# C6 s; }% R9 }
反向测量内部二极管开路:
- V* t% ]$ }0 u4 k, S; a
) G5 r0 k( t; Z g
n0b1qwhww1l640444040.png
6 N: I8 p$ I( [2 b
; D1 Q1 i' ]+ t! M& X( F下图显示一个损坏的 N 沟道场管反向测量内部二极管有 0.404V 的压降:
) J' ?4 W9 T3 ?; w; t' L% G( z; A: o5 g4 w& v: E
refofmzgfco640444141.png
+ U" p h; r2 \+ d
" |9 m1 o4 U5 e) g q, u3 w1 _4 D$ W第三步 测量其他引脚还是二极管档,场管一共三个引脚,两两测量一共有六种组合。一个好的场管除了正向测量漏源极之间的二极管为有压降,其他任何引脚之间都不应该有压降。 |
|