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端接电阻没选对,DDR颗粒白费?

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发表于 2024-3-4 16:28:22 | 显示全部楼层 |阅读模式
高速先生成员--姜杰
端接可以解决很多反射问题,如果还有问题,有没有一种可能是端接电阻阻值没选对?

  y/ I; x; _! q- I' r( Z/ \
' A7 N. f5 N: {8 o
对于点到点的拓扑,末端并联电阻的阻值比较容易选择,端接电阻阻值R与传输线特征阻抗一样即可。
  Y9 U$ h5 U; V' o: k/ y

1 S( D5 Z* N! n; i7 I
VTT为1V时,端接电阻R分别取30ohm,50ohm,70ohm的接收端电压如下图:

/ _7 ]- P1 L& j1 L
7 U3 r  A, _' F' r6 P- B4 N
可以发现,R与传输线特征阻抗同样都是50ohm时,接收端信号基本没有反射。原因是接收器输入阻抗通常很高,从信号的角度看,传输到末端的信号感受的阻抗就是端接电阻的阻值,R与传输线特征阻抗的匹配消除了阻抗突变引起的反射。
不幸的是,目前的绝大多数DDR的地址控制信号都是一驱多的拓扑,于是,问题开始变的复杂。
明明DDR的数据信号速率更高,为啥要更关注DDR的地址控制信号?数据信号一般都是点到点的拓扑,而且大多有片上端接(ODT),走线拓扑简单加上端接加持,信号质量通常都比较有保障。而DDR的地址控制类信号的设计难度在于其拓扑的复杂性,一驱多的走线拓扑对信号质量的影响太大,即便速率相比数据信号减半。

9 w  B+ B8 f/ Y& W: x' T

9 p9 K5 N% k0 C+ z8 e+ u+ ]
为了让大家对端接电阻的作用感受更加明显,我们选择了一个难度较大的案例:一驱九的DDR4地址信号,速率1600Mbps。
6 t* D# R8 l0 O4 b
7 V( w- Y+ D; w8 M0 W# \
由于反射更容易在近端颗粒DRAM1/DRAM2处积累,该处的信号质量更容易成为瓶颈。
方便对比,先看看不加端接的近端DRAM1信号。

8 a3 A" C4 ~2 r$ e- ?+ K1 [3 I
% r  F8 r, d! p$ g4 v  U

( ~8 Y- q! G! E3 E; J

( [: j5 V7 W9 i
和预料的一样,波形是杂乱的,眼图是闭合的。
再来看看按照原设计的39ohm端接电阻,近端颗粒信号质量有什么变化。

% I6 ^) m5 o$ s

* w& I) s" S0 t% k0 i- A4 e
显而易见,波形质量有了较大改善,眼睛也睁开了。但还是会有部分波形落在阈值电平(VIH:690mV;VIL:510mV)的区间内,这种情况下的时序大概率是Fail的。
下面扫描三种端接电阻阻值:25ohm,39ohm和51ohm,近端颗粒信号的波形对比如下:

+ B8 c$ e! f3 F" `* B1 h

8 @! _! O' d( N; E& b! Y
可以发现,按照这三种阻值的从大变小,信号质量是逐渐改善的。

. x& @# [) y8 e

; K% T0 N5 s4 f+ a0 t
对眼图的睁开程度进行对比,这种趋势会看的更加明显。
  A9 q0 }# Y$ g
$ g/ ~; ^, \, {8 L, C) E$ `7 P3 B
为了能看的更清楚,将三个眼图在时间轴上展开进行对比。
( x  z8 x0 E: y+ d

8 S8 [+ }0 H$ E& s4 K+ E9 X1 [8 g3 Q
以阈值电平(VIH:690mV;VIL:510mV)作为判决标准,25ohm端接电阻的眼图可以满足要求,另外两个则不达标。
当然了,这是个多负载的拓扑,其它DDR上的信号也需要关注。通过对比,高速先生发现了一个有趣的现象,同样的阻值变化,远端颗粒DRAM9上的信号质量变化与近端颗粒正好相反。

. {' t% O5 n3 ~; o4 v, B
# G5 o/ k! t0 s/ S4 l7 i# s: M
好在远端DDR由于更靠近端接电阻,信号裕量更大,因此可以“损有余而补不足”,即便选择远端波形最差的25ohm,眼图也是可以满足阈值电平要求的。
那是不是所有的一驱多DDR地址控制信号,随着端接电阻阻值变化都有相同的趋势呢?仅通过这一个案例,高速先生也无法给出一般性的结论。唯一可以肯定的是:前途是光明的,道路是曲折的,阻值是不确定的。拓扑越复杂,速率越高,就越有必要通过仿真确定最优端接电阻阻值。
问题来了
大家知道的优化DDR地址控制信号质量的方法都有哪些?
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